Education

• BS degree in Seoul National University (1987)

• MS degree in Seoul National University (1989)

• Ph. D degree in Lehigh University (1995)

 

Career

• Post-doc in University of Massachusettes at Amherst (1996)

• LG Chem Research Park,  Senior research engineer (1998)

• Exchange Professor in Stanford University (2003 ~ 2004)

• Professor in Sungkyunkwan University (1998 ~ current)

• 대한금속재료학회 재료분석분과위원장 (2018 ~ 2022)
• 한국현미경학회 부회장 (2020 ~ current)
• KIST 분석프로토콜 전문가위원회 위원 (2021 ~ current)
• 국가기술표준원 마이크로빔 전문위원 (2021 ~ current)
• COMPA 연구장비 성능평가 기술심의위원 (2022 ~ current)
• 과학기술정보통신부 미래선도연구장비 사업단 자문위원 (2022 ~ current)
• 한국표면분석학회 부회장 (2023 ~ current)
• 성균관대학교 공동기기원장 (2023 ~ current)

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​Writing

• 주사전자현미경 분석과 X선 미세분석, 청문각
  윤존도, 양철웅, 김종렬, 이석훈, 박용범, 권희석 공저

• 투과전자현미경 이론과 응용, 청문각
  김긍호, 박주철, 박찬경, 백현석, 신기삼, 안재평, 양철웅, 이확주, 최시영 공저